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SC-G考种及千粒重自动分析仪(含玉米果穗考种)

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万深SC-G考种及千粒重自动分析仪(含玉米果穗考种)
1 主要用途:
SC-G型自动种子考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。本配置专用于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析(紫黑色玉米不能测)。内置支持网上在线升级的模块。

2 技术指标
配A3幅面最高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色扫描仪。可分析各类种粒的种粒直径1~20mm。扫描仪分析工作区:A3幅面(431.8mm×304.8 mm)。可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右玉米籽粒。配500万像素分辨率的彩色数码拍摄仪,及超薄的背光光源板(大于A4幅面),具有图像调整、观察特性。
1).籽粒数分析速度、精度:
自动数粒速度:1500~3000粒/分钟(玉米籽粒),其它籽粒为1200~20000粒/分钟,数粒误差≤±0.1~0.4%,监视修正即达100%正确。具有相机画面畸变、背光板均匀性的自动矫正特性,有效减小尺寸测量误差。对于直径较小种粒(如油菜籽、蔬菜籽)的单批次考种数量在5000-10000粒。可根据实际需求自行创制一键自动分析向导,适用于水稻、小麦、玉米、豆类、油菜籽、瓜子、蔬菜籽等各类农作物的自动精确考种,自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数(长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等),以及其平均值,能精准显示种粒外接矩形,并可自动排序输出,及可输出粒径分布图表。自动千粒重分析的精度误差:≤±0.5%。具有对被分析目标颜色、形状进行自学习和再学习,并实现自动分类的特性,以及品种比对特性。能大批量自动分析成像后的种粒图片。
2).果穗、截面分析速度、精度:
同时成像分析玉米果穗:10个/次/分钟、玉米截面:35个/次/分钟。全自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、截面穗行数、穗粗、轴粗,以及其平均值,可自动测出各玉米截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。
3).有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口,插上电脑条码枪即可刷入样本条码编号;电子天平上的被测样本重量数据可一键送到电脑保存为EXCEL表。
4).分析过程为全程电脑控制,高效、准确、简便易用,真正一键式操作,鼠标一点,结果即现。
5).辅助删补:用鼠标选择增加/删除,或直接用鼠标在屏上手工计数,以确保100%正确。目标区的个性化计数:对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。
6).分析数据导出:分析图像结果可保存,以及按大小形状排列输出,自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel表,以及,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

供货配置表:
SC-G型考种及千粒重自动分析软件及电子版《简明手册》光盘 1张
软件锁 1个
A3幅面的紫光M1彩色扫描仪 1台
彩色拍摄仪(彩色500万像素) 1台
超薄的背光光源板 1套
带RS232通讯接口的量程220g电子天平(精度1mg) 1台
RS232接口通讯传输线 1条
种粒成像盘和收纳小盘 各1个

推荐电脑配置(需另配,由投标的经销商在当地找供应商

品牌电脑(酷睿i5 CPU / 8G内存/ 19.5”彩显/无线网卡,5个以上USB2.0口,Windows 10完整专业版或旗舰版)

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