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SC-E大米外观品质检测仪(稻米品质分析仪米质判定仪)

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SC-E大米外观品质检测仪(稻米品质分析仪米质判定仪)

1、用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

2、系统组成:双光源扫描成像仪及铺米器等附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

3、主要性能指标:

配光学分辨率4800×9600A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm

可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度(国家发明专利号ZL 2013 1 0172280.X、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准 大米LS/T 3247—2017等标准相对应,检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。

具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm,自动数粒精度≥99%,交互修正后准确率达100%

注:本技术标书中打款项必须响应,否则为重大偏离

选配电脑推荐:品牌一体机(酷睿双核CPU /4G内存/1G独立显卡/500G硬盘/ 19.5”彩显/DVD刻录 /无线网卡)。

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